產(chǎn)品介紹

一、渡層厚度檢測(cè)儀Ux-720描述：

Ux-720新一代國產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測(cè)J 儀，采用高分辨率的Si-PIN (或者SDD硅漂移探測(cè)器) ，測(cè)量精度和測(cè)量結(jié)果良好.采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是來料檢驗(yàn)和材料性能檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢租金檢，我們都會(huì)提供友好的體驗(yàn)和滿足檢測(cè)的需求。

二、渡層厚度檢測(cè)儀Ux-720特性：

Ux-720微移動(dòng)平臺(tái)和高清CCD搭配，旋鈕調(diào)節(jié)設(shè)計(jì)在殼體外部，觀察移動(dòng)位置簡(jiǎn)單方便.

X射線熒光技術(shù)測(cè)試鍍層厚度的應(yīng)用，提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)晶的檢驗(yàn)條件，無損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn)，對(duì)在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中晶質(zhì)的提升高了檢驗(yàn)的保障.

Ux-720鍍層測(cè)厚儀采用了華唯專利技術(shù)FlexFp -Multi .不在受標(biāo)準(zhǔn)樣昂的限制，在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測(cè)試樣昂的鍍層厚度，測(cè)試結(jié)果經(jīng)得起科學(xué)驗(yàn)證。

三、渡層厚度檢測(cè)儀Ux-720產(chǎn)品指標(biāo)：

測(cè)厚技術(shù)X射線熒光測(cè)厚技術(shù)
測(cè)試樣晶種類金屬鍍層，合金鍍層
測(cè)量下限0.003um
測(cè)量上限。30-50um (以材料元素判定)
測(cè)量層數(shù)。10層
測(cè)量用時(shí)30-120秒
探測(cè)器類型Si-PIN 電制冷
探測(cè)器分辨率145eV
高壓范圍: 0-50KV , 50W
X光筐參數(shù): 0-50KV , 50W ，側(cè)窗類;
光管靶材:Mo靶;
慮光片專用3種自動(dòng)切換，
CCD觀察260萬像素
微移動(dòng)范圍: XY15mm
輸入電壓AC220V , 50/60Hz
測(cè)試環(huán)境。非真空條件
數(shù)據(jù)通訊USB2 . 0模式
準(zhǔn)直器:1mm ，2mm ，4mm
軟件方法:FlexFP-M u Iti
工作區(qū)開放:工作區(qū)自定義
樣品腔:330x360x100mm